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高压加速老化试验机
高压加速老化试验机用于调查分析何时出现电子元器件，和机械零件的摩耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验！随着半导体可靠性的提高半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效，因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多.为了提高试验效率、减少试验时间。
更新时间:2025-07-03