hast非饱和高压加速老化试验箱广泛适用于IC、PCB、LCD Board、电池、电容、电阻,及其它电子零件之高温、高湿、高压等信赖性试验, 比较传统之恒温恒湿设备85/85%R.H.试验时, 可以节省大量时间, 当测试温度越高, 压力越大,测试时间缩短越多, 在质量检验上大量节省电力, 人力, 物力, 提升产品竞争力.有多种型号可选择。
hast非饱和高压加速老化试验箱产品特点:
1. 采用耐高温电磁阀双路结构,一定程度上降低了使用故障率。
2. 独立蒸汽发生室,避免蒸汽直接冲击产品,以免造成产品局部破坏。
3. 门锁电控制动结构,解决第一代产品圆盘式手柄的锁紧困难的缺点。
a.独特的无结露设计
b抽屉式滑动托盘设计
c.饱和试验(STD)和不饱和试验(HUM)两种试验模式
d.电子自动门锁紧结构
e.多种排气方式
f.可依据客户需要,选配不同试验夹具,用无风扇内部加热循环,确保长期使用无集尘产生。
4.试验前排冷空气;试验中排冷空气设计(试验桶内空气排出)提高压力稳定性、再现性.
试验腔杜绝凝露结构设计,试验腔室干燥设计。
5.超长效实验运转时间,长时间实验机台运转999小时.
6.水位保护,透过试验室内水位Sensor检知保护.
7.耐压设计,箱体耐压力(150℃)2.65kg,符合水压测试6kg.
8.二段式压力安全保护装置,采两段式结合控制器与机械式压力保护装置
9.安全保护排压钮,警急安全装置二段式自动排压钮 .
10.常规配备20组偏压测试端子,内外3.0快插设计(可增容)
11.USB导出历史记录数据,曲线
hast非饱和高压加速老化试验箱性能
1.1 设定温度: +100 ℃ ~ +147 ℃( 蒸气温度 )
1.2 湿度范围: 75~100 % 蒸气湿度
1.3湿度控制稳定度:±3%RH
1.3 使用压力: 1.2~2.89kg(含1atm)
1.4 时间范围: 0 Hr ~ 999 Hr
1.5 加压时间: 0.00 Kg ~ 1.04 Kg / cm2 约 45 分
1.6 温度波动均匀度 : ±0.5℃
1.7 温度显示精度:0.1℃
1.8 压力波动均匀度 : ±0.1Kg
1.9 湿度分布均度:±3%RH
地址:东莞市常平镇万布路53号千洪产业园
邮箱:apkjyzq@foxmail.com 邮编:523586
备案号:粤ICP备14102013号
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