网站首页 | 网站地图

产品目录

Products

产品中心

您现在的位置:首页 > 产品中心 > 高压加速老化 > 高压加速老化试验机 > AP-HAST/PCTHAST高压加速老化试验箱
HAST高压加速老化试验箱

HAST高压加速老化试验箱

简要描述:

HAST高压加速老化试验箱是可靠性加速测试设备,别称高加速应力试验机,主要用于模拟高温、高湿、高压复合环境,快速验证电子元器件、半导体封装、汽车电子、光伏配件等产品的长期耐湿热老化性能,是精密电子行业研发、可靠性验证、出厂质检的核心设备。相较于传统湿热测试,其老化效率提升数倍,可大幅缩短产品寿命验证周期。

打印当前页

免费咨询:0769-81015056

发邮件给我们:apkjyzq@foxmail.com

分享到:

HAST高压加速老化试验箱又称 HAST/PCT 高加速湿热试验机,依托高温、高压、高湿复合应力环境,快速加速水汽渗透与元器件老化,将自然环境数月的老化进程压缩至数天,是电子行业可靠性检测的核心设备。设备分饱和 PCT 与非饱和 HAST 两种机型,控温区间 100℃~150℃,湿度 65%~100% RH,承压 0.02~0.25MPa,温压调控精度高,符合 IEC、JESD、GB/T 多项国内外可靠性试验标准。

HAST高压加速老化试验箱箱体内胆采用 SUS304 耐腐蚀不锈钢,圆形承压腔体符合压力容器规范,外壳冷轧钢板静电喷塑,耐磨防锈;搭载智能 PLC 控制系统,全程序可编程,自动补水、升降压,可设置 0~999 小时长效试验,选配多路偏压接线端子,满足带电老化测试需求。设备配备自锁安全门、超温超压双重泄压、缺水断电报警等多重防护,箱内压力越大舱门密封越紧实,杜绝蒸汽泄漏隐患。
产品广泛用于半导体芯片、PCB 线路板、LED 器件、车载电子、密封塑胶、磁性材料等检测,快速暴露封装漏气、线路腐蚀、粘接失效等隐性缺陷,相较传统双 85 湿热试验效率提升 5~10 倍,助力研发端优化配方工艺、生产端来料品质筛查,现已批量应用于航天、汽车电子、光电、新能源电池等领域,为产品量产品质把控提供精准试验数据支撑。


地址:东莞市常平镇万布路53号千洪产业园 邮箱:apkjyzq@foxmail.com 邮编:523586
备案号:粤ICP备14102013号 技术支持:仪表网

粤公网安备44190002002539号