非饱和高压加速老化设备（HAST/UHAST）是半导体、车规电子行业专用高加速应力可靠性测试装置，区别于饱和型 PCT 蒸煮设备，可独立精准调控温度、压力与非饱和湿度，在无大量凝露工况下开展带偏压湿热加速试验，符合 GB/T 2423.40、JESD22-A110、JESD22-A118 等标准要求。设备密闭承压腔体采用不锈钢抛光结构，配套智能温控、压力传感与水汽调节模块，能够营造 105℃~143℃、65%~100% RH、可控高压的试验环境，大幅提升水汽渗透速率，将产品长期湿热老化过程压缩至数十小时内完成，快速激发封装分层、塑封水解、金属腐蚀、离子迁移等潜在失效缺陷。

非饱和高压加速老化设备设备支持带电偏置测试，避免饱和蒸汽环境易引发的样品短路问题，更贴近器件实际通电服役工况，适用于 IC 芯片、功率器件、PCB、封装材料、Mini/Micro LED 及汽车电子零部件的耐湿可靠性验证。整机搭载多重安全联锁、超温超压、缺水保护机制，程序可编程，温湿压控制精度高，试验重复性好。广泛用于样品来料检验、研发失效分析、工艺比对与 AEC-Q100 车规认证测试，帮助企业快速评估封装防护能力，筛选设计与材料短板，缩短产品验证周期，是半导体先进封装与精密电子可靠性实验室的核心装备。