HAST 高压加速老化试验箱（Highly Accelerated Stress Test），又称高加速应力湿热试验箱，是半导体、芯片、PCB、汽车电子行业用于湿气可靠性验证的专用环境试验设备，符合 JESD22‑A110、IEC60068‑2‑66 等标准。

HAST 高压加速老化试验箱设备在密闭承压腔体内同步控制温度、湿度与压力，营造高温、高压、可控湿度的复合应力环境，可设置 110℃～142℃、湿度 65%～100% RH、压力 0.1～0.3MPa，分为饱和 PCT 与非饱和 HAST 模式。依托加压提升水的沸点，在 100℃以上稳定形成蒸汽环境，加快水汽渗透，将产品数年自然湿热老化过程压缩至数十小时，快速激发封装分层、界面脱粘、内部腐蚀、绝缘劣化等潜在缺陷，大幅缩短可靠性验证周期。

腔体内胆采用 304 不锈钢一体承压结构，圆弧0死角设计，配合精密温控调压系统，抑制腔体内凝露滴水，避免液态水对样品造成非预期损伤，保证试验结果稳定可复现。配备安全联锁门、超温超压保护、缺水预警等多重防护，保障高压工况运行安全。

该设备广泛用于集成电路封装、车规芯片、连接器、塑胶密封器件、光伏元器件等产品的潮敏等级验证、批次筛选与工艺改进，是研发、来料检验、出厂可靠性认证环节的核心设备，帮助企业提前识别封装、粘接、基材的湿气薄弱点，提升电子产品长期耐湿热稳定性，降低终端市场失效风险。