非饱和高压加速老化试验机,也叫HAST高压加速老化试验箱,是电子行业专用的高加速应力可靠性测试设备,区别于传统饱和PCT试验设备,采用非饱和湿度控制技术,无结露测试环境,更贴合产品实际使用工况,广泛用于半导体、芯片、PCB电路板、汽车电子、连接器等元器件的湿热老化寿命检测。
非饱和高压加速老化试验机设备通过模拟高温、高压、高湿的严苛复合环境,大幅加速水汽渗透与材料老化进程,可在短时间内还原产品长期使用后的老化失效问题,高效检测产品封装密封性、耐湿热性能与结构稳定性,有效缩短产品研发、可靠性验证周期,替代传统漫长的自然老化测试,大幅提升质检效率。设备温控范围105℃–135℃,湿度70%–100%RH连续可调,压力稳定可控,温湿度与压力精度高,环境参数均匀性好,试验数据精准可靠。
整机采用优质不锈钢密闭腔体,抗压防腐蚀,密封性佳,搭配智能触控操作系统,参数一键设定、自动运行、全程闭环控制,支持多组试验程序存储,操作简单,杜绝人为误差。设备自带超温、超压、缺水、过载多重安全保护机制,运行稳定安全,适配长期不间断批量试验。
该设备严格遵循JESD22-A110、IEC60068等行业标准,是电子制造、新能源、航天军工、第三方检测实验室不可少的可靠性检测设备,可精准排查产品湿热老化缺陷,助力企业优化产品结构,提升产品耐候性与市场品质竞争力。