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电子器件蓄温冷热冲击箱

电子器件蓄温冷热冲击箱

简要描述:

电子器件蓄温冷热冲击箱适用于工业品的安全性能测试提供可靠性冷热冲击试验、产品经温度筛选试验等,同时通过此设备的试验

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电子器件蓄温冷热冲击箱适用于工业品的安全性能测试提供可靠性冷热冲击试验、产品经温度筛选试验等,同时通过此设备的试验,可提高工业品的性能可靠性和进行工业品的质量控制。工业品是包括众多工业产品的,如电子元器件、LED、光电、照明、光伏、硅胶、气配、通讯、家电、玩具、五金、金属制品等产品均适合购买冷热冲击试验仪器回去做测试、实验或者试验。还是是高校实验室、航空、研究院、计量单位等领域备的科研设备,试验物在进行冷热的温度环境冲击变化后的参数及性能,主要用于考核和确定各种产品在恶劣的温度环境中使用的适应性。

电子器件蓄温冷热冲击箱主要技术指标:

1.内箱尺寸:宽500 mm*高400mm*深400 mm

2. 机器重量:约 1000KG

3.预热高温度范围:+60℃~200℃;

4.储温箱升温时间约:+60℃~200℃≤30min;

5. 预冷低温度范围:-10℃~ -75℃;

6.储温箱降温时间约:+20℃~-75℃≤40min;(注:降温时间为低温室单独运转时的性能)

7.试验方式:气动风门切换2温区或3温区;

8.冷热冲击可选温度范围:(高:+65℃~+150℃)/ (低A:-40℃~-10℃;低B:-55℃~-10℃;低C:-65℃~-10℃)

9.温度波动度:±0.5℃

10.温度偏差:±2.0℃

11.温度恢复时间:3~5min

12.试样限制:本实验设备禁止易燃、爆炸、易挥发性物质试样的试验或储存;腐蚀性物质试样的试验或储存;生物试样的试验或储存;强电磁发射源试样的试验或储存。

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