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冷热冲击模拟测试箱

冷热冲击模拟测试箱

简要描述:

冷热冲击模拟测试箱主要是测试电子产品在高温、低温瞬间变化的气候环境下的贮存、运输和使用时的性能试验

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冷热冲击模拟测试箱主要是测试电子产品在高温、低温瞬间变化的气候环境下的贮存、运输和使用时的性能试验,主要用于各种各类型的电子产品在模拟冷温、热温时温度瞬间变化的气候条件下的适应性试验,对电子产品的物理以及其相关性能进行测试或试验

冷热冲击模拟测试箱简易参数表:

型号

AP-CJ-50L

AP-CJ-80L

AP-CJ-150L

AP-CJ-1000L


工作室尺寸D×W×H

350×350×400

500×400×400

600×500×500

1000×1000×1000


功率(KW)A/B/C

20/21/22

21/22/23

22/23/25

50/55/65


性能
指标

温度范围

A:-40℃~150℃ B:-55℃~150℃C:-65℃~150℃

温度波动

±0.5℃;均匀度±2℃

样品区温度波动

±0.5℃(恒温时)

样品区承重

30kg

30kg

50kg

60kg


温湿度运行控制系统

控制器

LED数显(P·I·D +S·S·R)微电脑集成控制器

精度范围

设定精度:温度0.1℃,指示精度:温度0.1℃,解析度:0.1℃

制冷系统

德国谷轮半封闭水冷式压缩机组/原装法国“泰康"/全封闭风冷复迭压缩制冷方式

循环系统

耐温低噪音空调型电机.多叶式离心风轮

温度转换时间

从低温区到高温区或从高温区到低温区≤15S

温度恢复时间

≤5min(与温度恢复条件有关,既冷却水温、暴露温差、恒温时间、样品重量有关)

温度冲击方式

两箱式/三箱式(两箱式电子产品高低温冲击试验箱/三箱式电子产品高低温冲击试验箱

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