Type-C 插拔寿命测试仪是消费电子连接器可靠性专用检测设备，依据 USB‑IF、IEC 62680、GB/T 2423.23 等规范，模拟数据线、充电头、拓展坞、手机主板 Type‑C 接口反复插拔工况，广泛用于数码、快充、车载电子、储能配件的研发验证与来料抽检。

Type-C 插拔寿命测试仪设备多采用伺服驱动卧式结构，配备 Type‑C 专用定位夹具，可快速更换标准测试母座，支持正反插测试。插拔速度、行程、循环次数连续可调，高精度力传感器实时采集插入力、拔出力曲线；选配导通阻抗监测模块，试验中可实时监控通断与接触电阻变化，出现断路、虚接时自动停机并保存数据。

试验按设定循环持续插拔，常规考核 10000 次循环，完成后核查接口壳体磨损、弹片疲劳、卡滞、松动、接触不良等失效问题，判定连接器结构、镀金工艺、塑胶材质是否达标，优化端子结构与装配方案，减少售后充电接触不良故障。

整机搭载触控操作系统，参数设置便捷，自动存储试验曲线与次数记录；机架刚性强，运行平稳低噪，配备安全防护门、急停联锁保护。设备支持计量校准，检测数据满足 CNAS 实验室、客户验厂、型式试验要求，是快充线材、连接器厂商可靠性实验室标配设备。