上下移动的温度冲击试验箱适用于半导体、电子电器零组件、化学材料、金属材料、自动化零部件、通讯组件、国防工业、航天工业、BGA、PCB基板、电子芯片IC、及高分子材料之物理变化的理想测试设备。
上下移动的温度冲击试验箱目的:温度冲击试验目的是考察被试样品在突然遭到温度剧烈变化时之抵抗能力及适应能力的试验高低温冲击试验主要用于考察剪切和疲劳损伤引起的失效。特别在元器件存在虚弱部位具有开路隐患时,或由于元器件材料和结构设计不当具有开裂隐患时,高低温冲击试验具有较好的鉴别效果。该实验一般用温度冲击试验箱。
产品介绍:
内容积100L
内箱尺寸:500×500×400mm (W* H *D)
外型尺寸(约):1400×1850×1600mm (W* H *D)
两箱特点·彩色触控LCD中/英文微电脑温度控制器。
·无纸式记录功能,具实时显示温度冲击试验变化之曲线图及记录双重功能。
·二箱移动式冷热冲击,安全的气压驱动测试物上下来回冲击。
·冷热冲击机构移动时间在10秒内,可符合MIL,LEC,JIS等规范。
·冷热冲击温度恢复时间在5分钟内,可符合相关试验规范。
·采HFC环保冷媒,二元超低温冷冻系统设计,降温快、效率高。
上下移动的温度冲击试验箱冲击温度范围:A-40℃~85℃B: -55℃~ 85℃C: -65℃~ 85℃
温度偏差: 3℃(空载时)
温度波动度.:≤1℃(空载时)
升温速率:从常温~ 150℃≤25min (全程平均)
(升温时间为高温箱单独运转时的性能)
降温速率:从常温~-55℃≤45min (全程平均)
(降温时间为低温箱单独运转时的性能)
时间设定范围:1 ~ 60000M
温度恢复时间:≤5min
提篮转化时间:≤15s
观察窗:210x 275mm或395x395mm (有效视界)
外箱材质:优质A3钢板静电喷塑
内箱材质:不锈钢SUS304
保温材质:硬质聚氨酯泡沫 玻璃纤维
温度控制器:APKJ品牌温度仪表
温度传感器:PT100铂金电阻测温体
标准配置:提篮样品架1套
安全保护:压缩机超压过载、风机过热整体设备欠相/逆相超温、整体设备定时、漏电保护、 过载及短路保护
防汗机件:以系统K型管之热能作防汗处理。
温度冲击试验目的:温度冲击试验目的是考察被试样品在突然遭到温度剧烈变化时之抵抗能力及适应能力的试验高低温冲击试验主要用于考察剪切和疲劳损伤引起的失效。特别在元器件存在虚弱部位具有开路隐患时,或由于元器件材料和结构设计不当具有开裂隐患时,高低温冲击试验具有较好的鉴别效果。该实验一般用温度冲击试验箱。
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