冷热冲击试验仪器常用于半导体行业及半导体产品、材料、配件做在瞬间下经*高温及极低温的连续环境下所能忍受的程度,藉以在最短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化及物理伤害。

冷热冲击试验仪器标准型型号（另：可根据客户要求定做）：

AP-TS--80 内箱尺寸：500×400×400 外箱尺寸：1800×1800×1440

AP-TS--150 内箱尺寸：600×500×500 外箱尺寸：1800×1900×1540

AP-TS--250 内箱尺寸：700×600×600 外箱尺寸：1900×2000×1640

AP-TS-S-480 内箱尺寸：800×800×750 外箱尺寸：2020×2250×2150

外箱尺寸：以实际尺寸为标准。

高温槽预热温度范围：+60℃～200℃；

升温时间： +60℃～200℃≤30min；

低温槽预冷温度范围： -75～-10℃；

降温时间： +20℃～-75℃≤60min；﹙注：降温时间为低温槽单独运转时的性能﹚

试验方式： 气动风门切换

温度冲击范围： ﹙+60℃～+150℃﹚/﹙-65℃～-10℃﹚

温度偏差： ±2.0℃

温度波动度： ±0.5℃

温度恢复时间： ≤5分钟

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