半导体冷热冲击试验箱还可以用于高、低温的可靠性环境模拟试验。对电子电工、航空航天、汽车摩托、光电、LED、橡胶、照明、塑胶、金属、船舶兵器、高等院校、科研单位等相关产品的零部件及材料在高、低温及冷热循环变化的情况下,检验其各项性能指标。

半导体冷热冲击试验箱技术参数：

规格型号：AP-TS-50/80/100/150/252/480

容量：50升、80升、100升、150升、252升、480升

内箱尺寸（宽*高*深）：400X350X360、500X400X400、500X500X400、600X500X500、700X600X600、800X800X750（MM）

外形尺寸（宽*高*深）：1560X1950X1400、1700X2070X1500、1700X2170X1500、1800X2270X1600、1900X2370X1700、2000X2570X1850（MM）

试验温度范围：A表示：-40℃～+150℃

              B表示：-55℃～+150℃

              C表示：-65℃～+150℃

低温槽温度范围：-55℃～-10℃、-70℃～-10℃、-80℃～-10℃

高温槽温度范围：+60℃～+200℃，升温速率平均5℃/MIN

温度波动度：±2.0℃

温度转换时间：10S

温度稳定时间：5MIN，常温～*低温度5MIN，常温～*高温度5MIN

备注：以上参数如均不符合自家的产品测试条件，可以致电业务员或者联系在线客服下单非标定制，或者上门定制，不收额外费用与成本。与河南高低温冲击测试箱相关的设备还有高低温冲击试验机、冷热冲击试验机、高低温检测冲击试验机、冷热冲击检测机、两箱式低温冲击试验机、三箱式低温冲击试验机、等冲击试验机。