低温冲击试验箱不但适合于led产品用，还常用于*防工业、航天工业自动化零组件、电器零组件、汽车部件、电子、塑料、化工业、光电、照明及相关产品在高低温度低气压单项或同时作用下，模拟高海拔、高空、（高原地区）气候进行贮存运用、运输可靠性试验，并可同时对试件通电进行电气性能参数的冲击测试。

低温冲击试验箱常规型号和技术参数:
冲击箱常规型号一:3AP-CJ-50

内箱尺寸W×H×D:360mm×350mm×400mm

外箱尺寸W×H×D:1560mm*1750mm*1440mm

冲击箱常规型号二:3AP-CJ-80
内箱尺寸W×H×D:500mm×400mm×400mm
外箱尺寸W×H×D:1700mm*1800mm*1440mm

冲击箱常规型号三:3AP-CJ-100
内箱尺寸W×H×D:600mm×400mm×400mm
外箱尺寸W×H×D:1800mm*1800mm*1440mm

冲击箱常规型号四:3AP-CJ-150
内箱尺寸W×H×D:600mm×500mm×500mm

外箱尺寸W×H×D:1800mm*1900mm*1540mm

冲击箱常规型号五:3AP-CJ-250
内箱尺寸W×H×D:700mm×600mm×600mm
外箱尺寸W×H×D:1900mm*2000mm*1640mm

备注：更多尺寸及容积可根据led产品的大小、长短做设计，如需非标定制致电咨询。

温度范围:

测试区温度冲击可选择范围: A:-40℃～+150℃;B:-55℃～+150℃;A:-65℃～+150℃
高温区预热温度:60℃ ～ 200℃
低温区预冷温度:-10℃～-55℃,-10℃～-65℃,-10℃～-75℃（此温度会根据测试区温度范围而调整）

技术性能:
温度分布均匀度:±2℃

温度波动度:±0.5℃
温度恢复时间:3～5min
高温区预热温度升温时间:150℃/30min,150℃/40min,150℃/40min,150℃/40min

低温区预冷温度降温时间: -40℃/60min, -55℃/70min, -65℃/80min
　　                 - 40℃/70min, -55℃/80min, -65℃/90min
　　                 -40℃/80min, -55℃/90min -65℃/100min
　　                 -40℃/90min, -55℃/100min, -65℃/110min