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半导体器件高低温测试设备

半导体器件高低温测试设备

简要描述:

半导体器件高低温测试设备主要用于测试工业产品在恒高温,恒低温的不同气候环境下的使用,运输和储存时的性能试验、实验。

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免费咨询:0769-81188261

发邮件给我们:apkjyzq@foxmail.com

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半导体器件高低温测试设备主要用于测试工业产品在恒高温,恒低温的不同气候环境下的使用,运输和储存时的性能试验、实验,主要用于对电工,电器、电子、光电产品,包括所有工业品的元器件,零部件,金属材料及其在模拟高温,低温的不同气候条件下,对产品的物理以及其它相关性能进行试验,试验测试后,通过检定后的成果来判断产品的性能是否能够达到要求或者标准,以便提供产品的改良,设计,生产,检定及出厂检验使用。

半导体器件高低温测试设备技术参数:

温度范围:0℃、-20℃、-40℃、-60℃、-70℃~+100℃(+150℃)

温度均匀度:≤2℃

温度波动度:≤0.5℃

升温速率:约3℃/min(非线性 空载)

降温速率:约1℃/min(非线性 空载)

内外箱材质:内箱采用304不锈钢,外箱采用不锈钢板或烤漆(客户可随意选择)

延伸设备:恒温恒湿试验箱,快速升降温湿热试验箱,高低温交变湿热试验箱,步入式恒湿恒温设备

使用环境温度:+5℃~35℃

标准配置:1、观察窗2、测试引线孔3、防潮照明灯4、不锈钢样品架

循环系统:单循环,低噪音离心风机

安全装置:漏电断电保护,压缩机超压,过热过流保护,过载熔断保护,风机过热保护,声讯报警等。

电源:AC380V或220V+10% 50Hz

地址:东莞市常平镇桥沥北门工业区 邮箱:apkjyzq@foxmail.com 邮编:523586
备案号:粤ICP备14102013号 技术支持:仪表网

粤公网安备44190002002539号