网站首页 | 网站地图

产品目录

Products

产品中心

您现在的位置:首页 > 产品中心 > 冷热冲击试验箱 > 高低温冲击老化试验箱 > 水冷式高低温冲击试验箱
水冷式高低温冲击试验箱

水冷式高低温冲击试验箱

简要描述:

水冷式高低温冲击试验箱本试验箱适用于考核产品(整机)、元器件、零部件等经受温度急剧变化的能力,该温度冲击试验能够了解试验样品一次或连续多次因温度变化而带来的影响。

打印当前页

免费咨询:86-0769-82983636/88086616

发邮件给我们:apkjyzq@foxmail.com

分享到:

水冷式高低温冲击试验箱技术参数:
温度范围:A:-40~ 150℃;B:-55~ 150℃;C:-65~ 150℃
温度偏差:±2℃
温度波动度:±0.5℃。 
温度恢复时间:≤5min。 
温度恢复条件:高温150℃曝露30min低温-20℃曝露30min,高温150℃曝露30min低温-40℃曝露30min,高温150℃曝露30min低温-55℃曝露30min,高温150℃曝露30min低温-65℃曝露30min。
温度冲击转移方式:采用气动驱动。   
高温室储温的升温时间:30min (+25℃~+200℃)。 
低温室储温的降温时间:65min (+25℃~-75℃)。
加热系统:镍铬合金不锈管加热器
制冷系统:采原装欧美进口高效率压缩机
循环系统:采日制多翼离心式循环风扇
控制系统:大屏原装彩色液晶触摸屏控制器
内箱材质:SUS#304 不锈钢板
外箱材质:SUS#304纱面不锈钢或冷扎钢喷塑处理
保温材质:硬质聚胺脂发泡+玻璃棉
水冷式高低温冲击试验箱本试验箱适用于考核产品(整机)、元器件、零部件等经受温度急剧变化的能力,该温度冲击试验能够了解试验样品一次或连续多次因温度变化而带来的影响。影响温度变化试验的主要参数为温度变化范围的高温和低温温度值、样品在高温和低温下的保持时间、以及试验的循环次数等因素。
满足以下标准
GB/T 10592 -2008 高低温试验箱技术条件;GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验A:低温;GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验B:高温;GB/T 5170.1-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 总则;GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 方法107 温度冲击试验。

地址:东莞市常平镇桥沥北门工业区 邮箱:apkjyzq@foxmail.com 邮编:523000
备案号:粤ICP备14102013号 技术支持:仪表网

粤公网安备44190002002539号