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优质高低温冲击试验箱

优质高低温冲击试验箱

简要描述:

优质高低温冲击试验箱所满足的标准有以下:GB/T2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分试验方法 试验A 低温;GJB360.7-87温度冲击试验;GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温;

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优质高低温冲击试验箱常用于自动化零部件、电子电器零组件、汽车配件、通讯组件、金属、塑胶等行业产品及零配件,半导体陶瓷、电子芯片IC及高分子材料之物理性变化,测试其材料对高、低温的反复冲击力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的实际质量,从精密的IC到重机械的组件,无一不需要它作为理想的测试设备。
主要技术参数:
1.内箱尺寸:600*500*500MM(W*H*D)(更大的尺寸或者更小的尺寸都可以致电爱佩定制)
2. 外部尺寸:1830*1950*1550 MM(W*H*D)(一般外尺寸会有一点点偏差属于正常现象)
3.试验箱温度设定范围:-65℃~+150℃
4.高温箱温度设定范围: +65℃~200℃
5. 低温箱温度设定范围:-10℃~-75℃;
6.降温时间:+20℃~-75℃≤60min;
  (注:降温时间为低温室单独运转时的性能并非冲击时间)
7.试验方式:试验时待测物试验箱里静静的摆放着,温度在高温箱及低温箱内受试验条件及控制器指标根据冷热冲击要求通过气体分别把冷热温度带动过来完成交替冲击的试验条件。
8.温度波动度:±0.5℃
9.温度均匀度: ±2.0℃
(依量测规范:量测SENSOR置放点,离内箱壁内尺寸1/10处)
10.冲击复归时间:-55℃~150℃约需3~5分钟
11.试验箱冷热温度转换移动时间:≦10秒
12.高低温冲击恒温时间各为30分钟
13.试样限制:本实验设备禁止易燃、易爆、易挥发性物质试样的试验或储存;腐蚀性物质试样的试验或储存;生物试样的试验或储存;强电磁发射源试样的试验或储存。
优质高低温冲击试验箱所满足的标准有以下:
GB/T2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分试验方法 试验A 低温;GJB360.7-87温度冲击试验;GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温;GB/T 10592 -2008 高低温试验箱技术条件;GB/T 10589-2008 低温试验箱技术条件;GB/T 11158-2008 高温试验箱技术条件;GB/T 2423.22-2002温度变化;GB/T 5170.1-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 总则;SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式;SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式;GB/T5170.2-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 温度试验设备;GB2424.1 电工电子产品环境试验 高低温试验导则;GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则;GB/T2423.22-1989温度变化试验;GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 方法107 温度冲击试验;IEC68-2-14_试验方法N_温度变化;EIA 364-32热冲击(温度循环)测试程序的电连接器和插座的环境影响评估;QC/T 17-1992 汽车零部件耐候性试验一般规则 汽车行业标标准等等包括其它产品行业标准。

 

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