可靠性高低温冲击检测设备特别适用于半导体电子器件做温度破坏测试，主要测试半导体电子器件材料结构在瞬间下经温及温的连续冲击环境下所能忍受的程度，得以在Z短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。本试验箱根据试验需求及测试标准分为三箱式和两箱式，区别在于试验方式和内部结构不同。三箱式分为蓄冷室，蓄热室和试验室，产品在测试时是放置在试验室。两箱式分为高温室和低温室，是通过电机带动提篮运动来实现高低温的切换，产品放在提篮里，是随提篮起移动的。
技术参数：
规格型号：AP-CJ-50/80/100/150/252/480
容量：50升、80升、100升、150升、252升、480升
内箱尺寸（宽*高*深）：400X350X360、500X400X400、500X500X400、600X500X500、700X600X600、800X800X750（MM）
外形尺寸（宽*高*深）：1560X1950X1400、1700X2070X1500、1700X2170X1500、1800X2270X1600、1900X2370X1700、2000X2570X1850（MM）
试验温度范围：A表示：-40℃～+150℃
              B表示：-55℃～+150℃
              C表示：-65℃～+150℃
低温槽温度范围：-55℃～-10℃、-70℃～-10℃、-80℃～-10℃
高温槽温度范围：+60℃～+200℃，升温速率平均5℃/MIN
温度波动度：±2.0℃
温度转换时间：10S
温度稳定时间：5MIN，常温～Z低温度5MIN，常温～高温度5MIN
内箱材质：SUS304不锈钢
外箱材质：SUS201纱面不锈钢或电解钢板喷塑处理
冷却方式：水冷或风冷（可选择）
冷冻系统：冷冻机组为复叠式，*法泰康压缩机或*比泽尔压缩机，R404A、R23A环保冷媒
高低温冷热冲击试验箱适用于电子电器零组件、通讯组件、自动化零部件、汽车配件、化学材料、金属、塑胶等行业、航天、防工业、BGA、兵工业、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物对高、低温的反复抵拉力及产品处于热胀冷缩的物理环境产出的化学变化或物理伤害，可确认各种产品的品质,从的IC到重机械的组件，不需要它,目此设备是工业产业共认的理想测试工具。
可靠性高低温冲击检测设备的测控系统：
1.控制器：进口7寸触屏中英文显示器+PLC﹙控制软件﹚+温控模块
2.运行方式：程序方式
﹙1﹚控制对象 试验区曝露温度
高温恒温区预热温度
低温恒温区预热温度
低温恒温区除霜温度
﹙2﹚指示精度 0.1℃
﹙3﹚输 入 热电偶 TDIN
﹙4﹚控制方式 微电脑PID+SSR控制
3.设定方式：中文菜单，触摸屏方式输入。
4.程序容量：100组程式，每个程序Z大3步；每个程序可设1000次循环，Z大循环设定9999cycles;