实验室冷热温度冲击试验箱的应用情况：

适用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化，测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质，从的IC到重机械的组件，都会用到，是各域对产品测试的*的项测试箱。

主要用于测试物不可移动，或带载测试(通电或外加测量传感器等)，测试物件置放于工作区，通过改变风道方式，将预冷室或预热室的温度带入工作室，实现温度的快速冲击变化;由于比二箱式冷热冲击试验箱多增加了个工作室区域的容积，在升降温时，需对预冷热量的要求要高，功率和蓄能装置配置要大，成本相应增加。

实验室冷热温度冲击试验箱的原理：

是金属、塑料、橡胶、电子等材料行业*的测试设备， 用于测试材料结构或复合材料，

在瞬间下经温及温的连续环境下所能忍受的程度，得以在Z短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。分为两厢式和三厢式，区别在于试验方式和内部结构不同，产品符合标准为：GB/T2423.1-2008试验A 、GB/T2423.2-2008试验B、GB-T10592-2008、GJB150.3-198、GJB360A-96方法107温度冲击试验的要求。
参照标准：

01、GB/T2423.1-2008试验A低温试验方法

02、GB/T2423.2-2008试验B高温试验方法

03、GB-T10592-2008高低温箱技术条件

04、GJB150.3-1986军用设备环境试验方法：高温试验

05、GJB360A-96方法107温度冲击试验的要求

06、军标GJB150.5-86；

07、GJB150.5-86温度冲击试验；

08、GJB360.7-87温度冲击试验；

09、GJB367.2-87 405温度冲击试验；

10、SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——箱式；

11、SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式；

12、满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化；

13、GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则；

14、GB/T2423.1-2001低温试验方法；

15、GB/T2423.2-2001；

16、GB/T2423.22-1989温度变化试验N；

17、军标GJB150.3-86；

18、军标GJB150.4-86；

19、GB/T 2423.22-2002温度变化；

20、QC/T17-92汽车零部件耐候性试验般规则；

21、EIA 364-32热冲击（温度循环）测试程序的电连接器和插座的环境影响评估。

的技术参数：

容积50L内箱尺寸：360×350×400外箱尺寸：1550×1800×1400

容积80L内箱尺寸：500×400×400 外箱尺寸：1800×1800×1440

容积150L内箱尺寸：600×500×500 外箱尺寸：1800×1900×1540

容积250L内箱尺寸：700×600×600 外箱尺寸：1900×2000×1640  

01、温度范围：-40℃～+150℃

02、温度上限：+170℃

03、温度下限：-70℃

04、温度偏差：±2℃

05、温度波动度：±0.5℃

06、温度恢复时间：5min

07、温度恢复条件：高温+150℃保温≥30min低温-40℃保温≥30min.

08、试品转移方式：采用气动

09、试品重量：≤3kg

10、高温室

    预热温度范围:RT～+165℃

    升温时间:+50℃→+165℃ ≤40min

    注：升温时间为高温室单独运转时的性能

11、低温室

    预冷温度范围:RT～-55℃

    降温时间:+20℃ → -55℃≤约60min

    注：降温时间为低温室单独运转时的性能 

12、噪音：（dB）≤75

箱体结构：

功能采用计算机控制，系自主开发的软件，有良好的操作界面，使用户的操作和监测都更加简单和直观，保持功能可以使你正在运行的程序保持在目的状态下，可以临时更改此程序段的数值，可以在屏幕上设置时间的参数，使制冷、加热、提蓝传送切换，按设定值自动进行。

冷箱、热箱独立控制，箱门互相独立，扩大试验箱的使用范围（箱三用）。

产品保温效果可以得到充分保证。

试验箱门与循环风机，提篮传动等互锁，保护操作者的安，旦打开箱门，循环风机和提蓝传动的电源会被自动切断。在箱有标准引线孔管，方便用户向箱内引入传感器线，检测电缆等类型引线。