led冷热冲击试验箱的制冷工作原理：高低制冷循环均采用逆卡若循环，该循环由两个等温过程和两个热过程组成。其过程如下：制冷剂经压缩机热压缩到较高的压力，消耗了功使排气温度升高，之后制冷剂经冷凝器等温地和四周介质进行热交换，将热量传给四周介质。后制冷剂经阀热膨胀做功，这时制冷剂温度降低。后制冷剂通过蒸发器等温地从温度较高的物体吸热，使被冷却物体温度降低。此循环周而复始从而达到降温之目的。
　　led冷热冲击试验箱分为高温区，低温区，测试区三部分，采用*之断热结构及蓄热、蓄冷效果，采用冷热风路切换方式导入试品中，做冷热冲击测试。led冷热冲击试验箱制冷循环均采用逆卡若循环，该循环由两个等温过程和两个热过程组成。其过程如下：制冷剂经压缩机热压缩到较高的压力，消耗了功使排气温度升高，之后制冷剂经冷凝器等温地和四周介质进行热交换，将热量传给四周介质。后制冷剂经阀热膨胀做功，这时制冷剂温度降低。*后制冷剂通过蒸发器等温地从温度较高的物体吸热，使被冷却物体温度降低。此循环周而复始从而达到降温之目的。
　　led冷热冲击试验箱利用低温及高温蓄冷热槽，依动作打开阀门，将低温及高温通过送风系统快速快速送到试验槽内,从而达到快速温度冲击效果,平衡调温控制系统（BTC） 特殊设计之送风循环系统,以P.I.D.方式控制SSR,使系统之加热量等于热损耗量,故能长期稳定的使用。
　　led冷热冲击试验箱适用于电子、电工产品和其他设备在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验，也是筛选电子元器件初期故障的较佳助手。led冷热冲击试验箱适用于考核产品（整机）、元器件、零部件等经受温度急剧变化的能力，该温度冲击试验能够了解试验样品次或连续多次因温度变化而带来的影响。
　　led冷热冲击试验箱广泛用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑料等行业，防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的质量,从的IC到重机械的组件，可作为其产品改进的依据或参考。